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      工具顯微鏡的數(shù)顯技術(shù)改造

      日期:2025-06-02 06:27
      瀏覽次數(shù):3237
      摘要:
          萬能工具顯微鏡可以測量零件的長度、角度、螺紋等諸多幾何量參數(shù),是長度計(jì)量檢測中使用*多的一種測試儀器,因此廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工業(yè)的各類企業(yè)。但隨著現(xiàn)代工業(yè)的發(fā)展以及科技的進(jìn)步,傳統(tǒng)的老式萬工顯已難以滿足要求,因此很有必要對(duì)其進(jìn)行工藝改造。本文以*常用的 JX7 型萬能工具顯微鏡為例,介紹對(duì)萬能工具顯微鏡的數(shù)顯工藝改造。 
      一、 數(shù)顯系統(tǒng)的改型 
          根據(jù)用戶多年在設(shè)備中應(yīng)用光柵、磁柵以及球柵數(shù)顯系統(tǒng)的經(jīng)驗(yàn),比較不同數(shù)顯系統(tǒng)的特點(diǎn)并通過性能和精度檢測,選擇 KG1 型高精度光柵數(shù)顯系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有制造精度高、穩(wěn)定性好、可靠性好以及裝置簡單、調(diào)試方便、對(duì)環(huán)境要求不高等優(yōu)點(diǎn),適合用于萬工顯的改造。 
          根據(jù) JX7 型萬工顯的測量范圍為縱坐標(biāo) 200mm 、橫坐標(biāo) 100mm ,選用 KG1 型測量范圍 250mm 和測量范圍 100mm 兩根光柵;選用配套的 GS-2000 型兩軸數(shù)顯表(*小分辨率為 0.2 μ m ),它具有傳感器的接口,可與 KG1 型原裝計(jì)量傳感器進(jìn)行配套。 
      二、數(shù)顯系統(tǒng)的裝置 
          由于加裝數(shù)顯系統(tǒng)必須在不影響儀器原有光學(xué)系統(tǒng)的前提下進(jìn)行,所以采用圖 1 所示裝置方案:將 250mm 的長磁尺裝置在縱向?qū)к壍挠覀?cè)(左側(cè)是儀器原有的玻璃刻度尺),因裝置位置所限右側(cè)須加裝一個(gè)支承塊,用來固定光柵的右端; 100mm 的光柵裝置在橫向?qū)к壍?*(圖 1B 處)。按照說明書上的裝置工藝條件,分別將兩個(gè)尺子裝置基面調(diào)整到與縱、橫向?qū)к夁\(yùn)動(dòng)方向(水平方向和垂直方向)平行,其平行度〈 0.1mm (通常裝置時(shí)都能方便地調(diào)整到 0.05mm 以內(nèi))。 
      三、數(shù)顯系統(tǒng)的調(diào)試 
          縱坐標(biāo)的調(diào)試:取下一起縱向?qū)к壣系牟AЧぷ髋_(tái),將一塊 200mm 的 3 等量塊兩端分別研上 10mm 的量塊附件,將其裝置在縱向?qū)к壒窝谢妫ㄒ妶D 1 量塊安置處),使其與光柵尺裝置在同一直線上,以減少阿貝差別。再用裝置在儀器橫向滑架上的計(jì)量傳感器測頭與量塊的一端接觸,此時(shí)數(shù)顯表開始計(jì)數(shù),然后移動(dòng)縱向?qū)к壥箓鞲衅鳒y頭與量塊的另一端接觸,在接觸的瞬間數(shù)顯表停止計(jì)數(shù)并保持?jǐn)?shù)據(jù)。數(shù)顯表的顯示值與量塊的實(shí)際尺寸之差就是數(shù)顯系統(tǒng)的差值。該差值若小于 3 μ m 則不必修正,若大于 3 μ m 時(shí)可根據(jù)差值的大小通過數(shù)顯表的差別補(bǔ)償系統(tǒng)進(jìn)行線性補(bǔ)償,可使差別小于規(guī)定的數(shù)值甚至接近于零。 
          以同樣的方法用 100mm 的量塊對(duì)橫坐標(biāo)進(jìn)行調(diào)試,此不贅述。 
      四、數(shù)顯系統(tǒng)的檢定 
          根據(jù)萬工顯檢定規(guī)程中的相關(guān)規(guī)定,需要檢定讀數(shù)裝置的示值差別、讀數(shù)裝置的回程差別和示值差別。 
      ( 1 ) 讀數(shù)裝置的示值差別檢定 
          對(duì)數(shù)顯系統(tǒng)來說,讀數(shù)裝置的示值差別就是數(shù)顯表的*小分辨率,即± 0.5 μ m ,無須檢定。 
      ( 2 )讀數(shù)裝置的示值差別的檢定(相當(dāng)于磁柵尺的重復(fù)性) 
          光柵尺讀數(shù)裝置就其構(gòu)造和原理來說是沒有回程差別的,當(dāng)然這需要很高的工藝水平做保證。通過用 0.1 μ m 的電感測微儀反復(fù)測試,光柵尺讀數(shù)裝置的回程差別*大不超過 0.5 μ m 。 
      ( 3 )示值差別的檢定(相當(dāng)于磁柵尺的準(zhǔn)確性) 
          用檢定極限差別不大于 0.5 μ m 的玻璃刻度尺作為標(biāo)準(zhǔn),按照規(guī)程規(guī)定的條件方法對(duì)縱、橫向分別進(jìn)行檢定;若沒有玻璃刻度尺,可用萬工顯原有的刻度尺與光柵尺進(jìn)行比較檢定,并用儀器原有的示值差別進(jìn)行修正,以確定光柵尺各被檢點(diǎn)的實(shí)際差別,若有超差再用線性補(bǔ)償系統(tǒng)進(jìn)行補(bǔ)償。 

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